A principal diferença entre a cristalografia de raios X e a difração de raios X é que a cristalografia de raios X é a técnica na qual os cristais únicos são expostos aos raios X, enquanto a difração de raios X é a técnica na qual uma ampla variedade de formas do material são usadas para medição.
A cristalografia de raios X e a difração de raios X são técnicas analíticas importantes que podemos usar para determinar a estrutura e as propriedades de materiais cristalinos.
ONTENTS
1. Visão geral e diferença chave
2. O que é Cristalografia de Raios-X
3. O que é Difração de Raios X
4. Cristalografia de Raios X vs Difração de Raios X em Forma Tabular
5. Resumo – Cristalografia de Raios X vs Difração de Raios X
O que é Cristalografia de Raios-X?
A cristalografia de raios X pode ser descrita como a ciência experimental que determina a estrutura atômica e molecular de um cristal. A estrutura cristalina do cristal pode fazer com que o feixe de raios-X incidentes difrate o feixe em muitas direções específicas.
Um cristalógrafo pode medir os ângulos e intensidades dos feixes difratados para produzir uma imagem 3D da densidade dos elétrons dentro deste material cristalino. Usando esta densidade eletrônica, podemos determinar as posições médias dos átomos no cristal, as ligações químicas junto com a desordem cristalográfica e outras informações importantes.
Figura 01: Um Difratômetro de Raios X de Pó em Movimento
A cristalografia de raios-X está relacionada a alguns outros métodos para determinar estruturas atômicas. Não é difícil produzir padrões de difração semelhantes através do espalhamento de elétrons ou nêutrons.
O que é Difração de Raios X?
A difração de raios X pode ser descrita como um fenômeno no qual os átomos de um cristal causam um padrão de interferência das ondas do feixe incidente de raios X. Neste método, os planos atômicos do cristal atuam sobre os raios X, da mesma forma que a grade de difração uniformemente regrada sobre um feixe de luz.
A difração de raios X é uma técnica útil na ciência dos materiais para a determinação da estrutura cristalográfica de um material. Essa técnica funciona irradiando um material junto com os raios X incidentes e medindo as intensidades, ângulos de espalhamento dos raios X, etc., que deixam o material.
Figura 02: Difratômetro XRD
Normalmente, a difração de raios X é útil na caracterização primária de propriedades de materiais, como estrutura cristalina, tamanho cristalino, tensão, etc. Portanto, o uso desta técnica em pesquisa farmacêutica está aumentando amplamente.
Podemos simplesmente denotar a difração de raios X como XRD. Existem diferentes tipos de métodos de difração de raios X, como micro XRD, XRD de feixe paralelo, XRD paralelo para pó, cristalografia de proteínas e difração de nêutrons.
Qual é a diferença entre cristalografia de raios X e difração de raios X?
Os raios X são muito importantes em diferentes técnicas analíticas, como a cristalografia de raios X. A principal diferença entre a cristalografia de raios X e a difração de raios X é que a cristalografia de raios X refere-se à técnica na qual os cristais únicos são expostos a raios X, enquanto a difração de raios X refere-se à técnica na qual uma ampla gama de formas do material são usados para a medição. Além disso, a cristalografia de raios X é uma ciência experimental, enquanto a difração de raios X é uma técnica química.
A tabela a seguir resume a diferença entre cristalografia de raios X e difração de raios X.
Resumo – Cristalografia de Raios-X vs Difração de Raios-X
A cristalografia de raios X é a ciência experimental que determina a estrutura atômica e molecular de um cristal, enquanto a difração de raios X é um fenômeno no qual os átomos de um cristal causam um padrão de interferência das ondas no feixe incidente de raios-x. A principal diferença entre a cristalografia de raios X e a difração de raios X é que a cristalografia de raios X refere-se à técnica na qual os cristais únicos são expostos a raios X, enquanto a difração de raios X refere-se à técnica na qual uma ampla gama de formas do material são usados para a medição.
